Заседание Международной электротехнической комиссии в Нью-Йорке
23-24 июня 2011 года в Нью-Йорке прошло заседание технического комитета № 101 (Электростатика) Международной электротехнической комиссии. На заседании комитета присутствовало более 40 представителей национальных технических комитетов из Германии, Канады, Нидерландов, России, США, Швейцарии, Швеции и Японии. Россия была представлена участниками отечественного технического комитета по стандартизации А.С. Кривовым (" Метрологическая ассоциация промышленников и предпринимателей), .В. Трегубовым ( «ЕСД Эксперт») и С.А. Честниковой (НПФ «Диполь»).
Международная электротехническая комиссия (International Electrotechnical Commission, IEC) — международная некоммерческая организация по стандартизации в области электрических, электронных и смежных технологий. Некоторые из стандартов МЭК разрабатываются совместно с Международной организацией по стандартизации (ISO).
Основными итогами заседания технического комитета No.101 стали:
- Внесение существенных изменений в стандарты:
- 61340-5-1 Защита электронных устройств от электростатических явлений – Общие требования
- 61340-5-3 Защита электронных устройств от электростатических явлений – Методы испытаний упаковочных материалов, предназначенных для чувствительных к электростатике устройств
- Внесение обновлений и принятие второй редакции стандартов:
- 61340-4-6 Стандартные методы испытаний для специального применения – Браслеты
- 61340-4-7 Стандартные методы испытаний для специального применения – Ионизация
- 61340-4-8 Стандартные методы испытаний для специального применения – Экранирование от разряда – Сумки
- 61340-4-9 Стандартные методы испытаний для специального применения – Одежда
- Принятие первой редакция стандарта:
- 61340-4-10 Метод испытания защиты чувствительных к электростатике устройств – измерение сопротивления по двум точкам
Также комитетом обсуждались вопросы методов испытаний на статическое электричество для различных типов одежды, вопросы моделирования электростатических эффектов и комплексной защиты электронных устройств от электростатических явлений.